【PCT高壓加速老化試驗箱用途】

豪恩系列PCT高壓加速老化測試設(shè)備適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間.

【產(chǎn)品特點】

1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率；

2.獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞；

3.門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決上代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

5.超長效實驗運轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)1000小時；

6.水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護；

7.tank耐壓設(shè)計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg；

8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護裝置；

9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕；

10.全觸控式控制器，支持U盤導(dǎo)出歷史記錄。

【性能】

     型號：HE-PCT-300

     1.1 設(shè)定溫度: +100 ℃ ～ +132 ℃( 飽和蒸氣溫度 )

     1.2 濕度范圍: *蒸氣濕度

     1.3濕度控制穩(wěn)定度：±1%RH

     1.4 使用壓力: 1.2～2.89kg(含1atm)

     1.5 時間范圍: 0 Hr ～ 9999 Hr

     1.6 加壓時間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

     1.7 溫度波動均勻度 : ±0.5℃

     1.8 溫度顯示精度：0.1℃

     1.9 壓力波動均勻度 : ±0.02Kg

     1.10 濕度分布均度：±5%RH

【試驗箱材質(zhì)】

     2.1 試驗箱尺寸: ∮300 mm x L500 mm）,圓型試驗箱

     2.2 全機外尺寸:  900x  800 x 1600 mm ( W * D * H )

     2.3 內(nèi)桶材質(zhì): 不銹鋼板材質(zhì)（SUS# 316  3 mm）或噴塑

     2.4 外桶材質(zhì): 不銹鋼板材質(zhì)

     2.5 保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

     2.6 蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱，不生銹。

     2.7 控制系統(tǒng):

a.采用觸控式控制器，控制試驗溫度，時間及信息查詢和數(shù)據(jù)導(dǎo)出.

b.采用指針顯示壓力表.

c.微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度.

d.手動入水閥（自動補水功能，可不停機連續(xù)試驗）.

2.8機械結(jié)構(gòu):

a.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計.

b.圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.

c.精密設(shè)計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù) 400Hrs 運轉(zhuǎn).

d.packing設(shè)計使門與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命.

e.臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示.

2.9安全保護：

a.進口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無泄露。

b.整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，保證用戶的使用和安全。

c.反壓門鎖裝置，在試驗室內(nèi)部有壓力時，試驗箱門無法打開。